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사례 번호 435
변위 센서를 이용한 부품의 평탄 측정
변위 센서를 이용해 칩 소성 전 트레이의 평탄도를 측정합니다
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변위 센서를 이용해 칩 소성 전 트레이의 평탄도를 측정합니다


주위 환경에 의한 온도 변화가 있어도 광학 베이스에 다이캐스트를 사용하고 있으므로 계측값의 변동이 거의 없습니다.
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