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사례 번호 40
고온 환경에서 액정 기판의 유무 검출
내열 사양의 투과형 화이버를 한정 반사형 배치로 사용합니다. 배경의 영향을 쉽게 받지 않아, 안정적으로 액정 기판의 유무를 검출할 수 있습니다.  
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내열 사양의 투과형 화이버를 한정 반사형 배치로 사용합니다. 배경의 영향을 쉽게 받지 않아, 안정적으로 액정 기판의 유무를 검출할 수 있습니다.



기존에는 고온 환경에서 사용할 수 있는 한정 반사형 센서 및 거리 설정형 센서가 없었습니다.
확산 반사형 센서에서는 배경인 핫 플레이트를 검출하여, 액정 기판만의 안정적인 유무 검출을 할 수 없었습니다.
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