반사형
E32-DC200
기타
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·일반적인 워크의 유무 검출에 사용
·용도에 따라, 검출헤드형상, 검출거리등,각종 타입 있음
·화이버헤드의 설정방향(*)에 의해, 동작영역이 변화
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동축반사형
E32-CC200
E32-D32
E32-D32L
E32-C31
E32-C41
E32-C42
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·워크의 위치결정 검출용으로 사용
·화이버헤드의 설정방향에 따라, 검출영역이 변화하지 않음(투광화이버 주위에 수광화이버를 배치시키기 때문)
·미소스팟렌즈(E39-F3A, E39-F3A-5, E39-F3B, E39-F3C)와의 조합으로 미소스팟 반사형으로써 사용가능(E32-CC200, E32-D32L 제외)
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