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투명 필름·투명체 안정 검출
고주파 변조로 95% 투과 필름과 투명체의 두께·위치 미세 변화도 안정적으로 검출합니다.
투명체검출E3NC-L
고주파 변조와 가변 스폿으로 투명체·광택면 등 어려운 워크피스도 안정적으로 검출합니다.
HSDR-CMOS 50만배 다이나믹 레인지와 삼각측거 방식으로 광택·주물 금속 색상·재질 무관 안정 검출합니다.
최대 60도 경사 실장 대응, 라인 빔 형상 선택, 렌즈 어태치먼트·고무 패킹으로 적용 범위를 확장합니다.