Page top

 
OMRON IA Global
Sitemap Login Sign Up
고속 CT 형 X 선 자동 검사 장치
VT-X750
인라인 전수 검사를 실현하는 AXI
 스크랩하기
Service Info
    대체상품보기
대체상품이 존재하지 않습니다.
Features | Lineup |
Specifications
| Dimensions |
Specifications

하드 구성 / 기능 사양

 

  내용
형식  VT-X750
검사 대상 부품 BGA / CSP 삽입 부품, SOP / QFP, 트랜지스터, R / C 칩 바닥 전극 부품, 
QFN, 파워 디바이스
검사 항목 보이드 오픈 불 젖은 솔더 량, 오프셋, 이물질 교합 코믹 브리지 리드 유무 등 
(검사 대상에 따라 선택 가능)
촬상 
사양
촬상 방식 여러 프로젝션 이미지를 이용한 3 차원 단층 촬상 방식
영상 해상도 6,8,10,15,20,25,30μm / pixel (검사 대상에 따라 선택 가능)
X 선원 마이크로 포커스 밀폐 관 (130kV)
X 선 검출기 평면 패널 검출기
대상 
기판
기판 크기 50 × 50 ~ 610 × 515mm, 두께 : 0.4 ~ 5.0mm
기판 무게 4.0kg 이하 (부품이 실장 된 상태)
탑재 부품 높이 윗면 : 50 mm 이하 아랫면 : 40 mm 이하
썰매 편향 2.0mm 이하
장비 
사양
외형 치수 1,550 (W) × 1,925 (D) × 1,645 (H) mm 
(돌기부 신호 타워, 디스플레이 제외)
장비 무게 약 2,970kg
기판 반송 높이 900 ± 15mm
전원 전압 단상 AC200 ~ 240V, 50 / 60Hz
정격 전력 2.4kVA
X 선 노출 선량 0.5 μSv / h 미만
에어 0.4 ~ 0.6MPa
대응 규격 CE, SEMI, NFPA, FDA

 

Top of page
OMRON Korea 개인정보 처리방침 이용약관 및 권장환경 마케팅 정보 활용방침 주문에 관한 동의 사항