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사례 번호 16
칩의 배출 확인
균일한 빛의 에어리어 빔이므로 칩의 낙하 위치가 분산되어도 확실하게 검출할 수 있습니다. 
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균일한 빛의 에어리어 빔이므로 칩의 낙하 위치가 분산되어도 확실하게 검출할 수 있습니다.


기존의 에어리어 빔 화이버 센서는 검출 위치에 따라 광량이 균일하지 않았습니다. 워크가 통과하는 장소에 따라 검출 가능하거나 불가능한 편차가 있었습니다.
또한 레이저 타입 센서 등은 안전성 관점에서 장벽이 있었습니다.
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